相控陣T/R組件自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)
概述
相控陣T/R組件自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)可用于微波組件常態(tài)各項(xiàng)性能指標(biāo)的自動(dòng)測(cè)試和環(huán)境測(cè)試條件下的各項(xiàng)指標(biāo)的自動(dòng)化測(cè)試,，測(cè)試指標(biāo)包括：輸出功率,、接收增益,、噪聲系數(shù),、移相衰減精度,、雜散諧波,、帶內(nèi)平坦度,、輸入輸出駐波比,、隔離度等,。
組成
測(cè)試系統(tǒng)主要由矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀,、信號(hào)源,、頻譜分析儀、功率計(jì)及探頭,、程控電源,、開(kāi)關(guān)矩陣、高性能射頻電纜,、多功能控制單元,、測(cè)試軟件、系統(tǒng)設(shè)計(jì)及集成（包括機(jī)柜及機(jī)械件,，主控計(jì)算機(jī),，網(wǎng)絡(luò)控制設(shè)備，溫度檢測(cè)單元）等組成,。
功能
實(shí)現(xiàn)TR組件的測(cè)試流程標(biāo)準(zhǔn)化,、測(cè)試過(guò)程自動(dòng)化以及測(cè)試數(shù)據(jù)管理數(shù)字化；
實(shí)現(xiàn)TR組件駐波,、增益,、相位、輸出功率,、噪聲等常態(tài)批量指標(biāo)自動(dòng)化測(cè)試和環(huán)境條件下批量指標(biāo)自動(dòng)化測(cè)試,，以及測(cè)試數(shù)據(jù)的數(shù)字化管理和追蹤；
提高TR組件批量調(diào)試測(cè)試的效率,，縮短產(chǎn)品的研制生命周期,，實(shí)現(xiàn)測(cè)試數(shù)據(jù)的全生命周期管理
